材料分析測試方法，材料分析測試技術
材料分析的基本原理（或稱技術基礎）是指測量信號與材料成分、結構等的特征關系。?采用各種不同的測量信號（相應地具有與材料的不同特征關系）形成了各種不同的材料分析方法。
1、X-射線衍射分析 ：物相成分、結晶度、晶粒度信息 2、電子顯微鏡 ：材料微觀形貌觀察 3、熱分析 ：分析材料隨溫度而發生的狀態變化 4、振動光譜：分子基團、結構的判定 5、X-射線光電子能譜 ：一種表面分析技術，表面元素分析 6、色譜分析：分析混合物中所含成分的物理方法
對連續X射線譜的解釋:（1）根據經典物理學的理論，一個帶負電荷的電子作加速運動時，電子周圍的電磁場將發生急劇變化，此時必然要產生一個電磁波，或至少一個電磁脈沖。由于極大數量的電子射到陽極上的時間和條件不可能相同，因而得到的電磁波將具有連續的各種波長，形成連續X射線譜。（2）量子力學概念，當能量為eV的電子與靶的原子整體碰撞時， 電子失去自己的能量，其中一部分以光子的形式輻射出去，每碰撞一次，產生一個能量為hν的光子，即“韌致輻射”。大量的電子到達靶面的時間、條件均不同，而且還有多次碰撞，因而產生不同能量不同強度的光子序列，即形成連續譜。
材料分析測試技術
第一章 材料分析測試技術概述（材料分析測試目的和物理角度論述基本粒子與材料的相互作用）
第一節 一般原理
第二節 衍射分析方法概述
第三節 電子顯微分析方法概述
第四節 電子能譜分析方法概述
第五節 光譜分析方法慨述
第六節 色譜、質譜及電化學分析方法概述
第七節 其他分析方法概述
第八節 計算機在分析測試技術中的應用概述
第二章
X射線衍射分析 第一節X射線物理基礎
1 x射線的產生
2 連續X射線譜
3 特征X射線譜
第二節X射線衍射衍射方向
1、 布拉格方程
2、倒易點陣及衍射矢量方程
3、厄瓦爾德圖解
第三節x射線衍射強度
1、一個電子的散射強度
2、原子散射強度
3、晶胞衍射強度
4、小晶體散射與衍射積分強度
5、多晶體衍射積分強度
6、影響衍射強度的其它因素
(參考文獻 )
微信
報告查詢